专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [外观设计]预埋件(I-CN201730023557.1有效
  • 林仁军 - 林仁军
  • 2017-01-20 - 2017-08-18 - 25-01
  • 1.本外观设计产品的名称槽预埋件(I);2.本外观设计产品的用途本外观设计产品用于预先安装(埋藏)在隐蔽工程内的构件;3.本外观设计产品的设计要点本产品的整体形状;4.最能表明本外观设计设计要点的图片或照片立体图
  • 预埋件
  • [发明专利]一种利用压电力传感器测量静态力的方法-CN201710465211.6有效
  • 刘俊;徐军领;罗新卫;梁传伟 - 重庆大学
  • 2017-06-19 - 2019-12-03 - G01L1/16
  • 本发明公开了一种利用压电力传感器测量静态力的方法,它包括以下步骤:1‑建立压电力传感器测量系统输出电压随时间变化的数学;2‑确定压电力传感器测量系统的时间常数τ;3‑确定时间间隔<I>ΔtI>及压电力传感器测量系统输出电压的衰减阈值<I>ΔuI><I>thI>;4‑判断被测力是稳恒力还是变恒力,若在时间间隔<I>ΔtI>内测量系统输出电压的衰减值<I>ΔuI>不超过衰减阀值<II><I>uI><I>thI>,则被测力为稳恒力,按<I>uI><I>0I>输出一个恒定值;若衰减值<I>ΔuI>超过衰减阀值<I>ΔuI><I>thI>,则被测力为变恒力,根据衰减值<I>ΔuI>对测量系统的输出电压补偿后输出。本发明的技术效果是:在不改变压电力传感器结构的情况下,经补偿克服了压电力传感器电荷衰减的影响,获得稳定的输出电压,实现利用压电力传感器对静态力的测量。
  • 一种利用压电传感器测量静态方法
  • [发明专利]可拆铜蒸气激光器的气体纯化方法和装置-CN200910047893.4无效
  • 雷建求;叶韧;胡谷雨;姜阅清;陶永祥 - 上海大恒光学精密机械有限公司
  • 2009-03-20 - 2009-08-12 - H01S3/227
  • 一种可拆铜蒸气激光器的气体纯化处理方法和装置,该方法是在可拆铜蒸气激光器的放电回路设置电流的取样装置,在可拆铜蒸气激光器工作时,取样放电回路的工作电流I,并与可拆铜蒸气激光器稳定工作区III的工作电流进行比较,当IIII时,通过可编程程序控制器驱动可拆铜蒸气激光器循环地运行“抽气—停止抽气—充氖气—加高压—放电—高压停”进行气体纯化处理,直到放电回路的工作电流I的满足关系III时,中:I是欠流电流,I是过流电流,可拆铜蒸气激光器自动地进入稳定的工作状态。本发明使可拆铜蒸气激光器能自动地进行气体纯化处理并进入稳定的工作状态。
  • 可拆式铜蒸气激光器气体纯化方法装置
  • [发明专利]混合极转子及电机-CN201810832330.5有效
  • 李健;王凯;张涵;刘闯 - 南京航空航天大学
  • 2018-07-26 - 2020-11-06 - H02K1/27
  • 本发明公开了一种混合极转子及电机,包括表面永磁体、内置永磁体、转子铁心和转轴;转子铁心采用导磁材料制成,转子铁心套装在转轴的外周;内置永磁体沿径向插设在转子铁心中,表面永磁体沿周向嵌套在转子铁心的外圆周表面;当p=2i时,表面永磁体的数量为2i个,内置永磁体的数量为i个,i为正整数。当p=3i时,表面永磁体的数量为2i个,内置永磁体的数量为2i个,i为正整数。当p=5i时,表面永磁体的数量为4i个,内置永磁体的数量为2i个,i为正整数。
  • 混合转子电机
  • [发明专利]用于OLED像素沉积的沉积掩模-CN202111580123.3在审
  • 金南昊 - LG伊诺特有限公司
  • 2021-12-22 - 2022-06-24 - C23C14/04
  • 至30μm,金属板包括深度为金属板的厚度的20%或更小的第一表面层以及深度为金属板的厚度的20%或更小的第二表面层,当关于第一表面层的(111)晶面、(200)晶面和(220)晶面的衍射强度分别定义为I(111)、I(200)和I(220)时,I(220)、I(200)和I(111)的衍射强度的比率分别由1、2和式3定义,[1]A=I(220)/(I(200)+I(220)+I(111))[2]B=I(200)/(I(200)+I(220)+I(111))[3]C=I(111)/(I(200)+I(220)+I(111))A的值大于B和C的值,B的值大于C的值,当B与A的比率(B/A)定义为
  • 用于oled像素沉积

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